由于范霍夫奇点的涌现现象和相关电子态揭示了丰富的物理性质，二维平带系统引起了人们的极大关注。然而，在场效应结构中电检测平带位置的困难减缓了对其性质的研究。近日，洛桑联邦理工学院Andras Kis使用硒化铟（InSe）作为平带系统，因为其在不需要扭曲角的情况下，在材料价带边缘处存在范霍夫奇异性。

本文要点：

1) 作者研究了InSe结构中的隧道光电流，并将其与双极传输和光致发光测量联系起来。作者观察到，由于在平带处存在范霍夫奇异性，隧道机制出现了急剧变化。

2) 作者通过研究隧道电流作为室温下平带位置的可靠探针，进一步证实了该发现。该结果为研究二维材料异质结构中的平带系统创造了一种替代方案。

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Gabriele Pasquale et.al Electrical detection of the flat-band dispersion in van der Waals field-effect structures Nature Nanotechnology 2023

DOI: 10.1038/s41565-023-01489-x

https://doi.org/10.1038/s41565-023-01489-x