纳米线（NWs）为在微/纳米尺度上建立高性能传感器和设备提供了机会。纳米线的定向移动和组装已经引起了广泛的关注。然而，可控的操作仍然具有挑战性，部分原因是对纳米线和基底（或接触探头）之间的界面相互作用缺乏了解。鉴于此，伦敦大学学院的Huiyun Liu、西南交通大学的钱林茂和余丙军等研究了Ag NWs在不同弯曲角度和推动速度下的横向弯曲，并根据高分辨率透射电子显微镜（HRTRM）的检测，明确了与微结构相对应的机械性能。

本文要点：

（1）原子力显微镜（AFM）和扫描电子显微镜（SEM）检测了Ag NWs的弯曲角度相关的断裂，当弯曲角度大于80°时，断裂发生。与Ag衬底相比，根据AFM探针的纳米压痕，Ag NWs表现出较低的系统刚度。

（2）HRTRM观察表明，Ag NWs内部存在晶界，这将是横向弯曲和纳米压痕期间Ag NWs上产生断裂和裂纹的原因。

（3）这项研究为可控地操纵NWs和制造高性能的微/纳米器件提供了一个指南。

Licong Cui, Jiaming Li, Huaicheng Zhou, Lei Wu, Dan Yang, Huiyun Liu, Linmao Qian, and Bingjun Yu, Lateral Bending of Ag Nanowires toward Controllable Manipulation, ACS Nano Article ASAP

DOI: 10.1021/acsnano.3c00517

https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acsnano.3c00517